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嘉賓揭曉(一)|國際考試行業(yè)協(xié)會(亞洲分會)2024年會

作者:Luwei Zeng 發(fā)布時間:

嘉賓揭曉(一)|國際考試行業(yè)協(xié)會(亞洲分會)2024年會

作者:Luwei Zeng 發(fā)布時間:

摘要:將于11月17至11月19日在泰國舉行。

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國際考試行業(yè)協(xié)會(亞洲分會)2024年會(簡稱“A-ATP2024年會”), 將于11月17至11月19日在泰國舉行。

本次大會以“邁向未來——探究亞洲教育與測評各市場新熱點”為主題,重點關注亞洲教育技術和考試行業(yè)的顛覆性技術、考試測評和教育文化,以及市場趨勢。大會旨在為測評行業(yè)的專業(yè)人士、教育工作者、企業(yè)、研究人員、測評機構(gòu)、項目經(jīng)理、臨床醫(yī)師,以及企業(yè)領袖打造共同深度交流的平臺,達成共同學習、分享見解、建立聯(lián)系等目的。

大會由國際考試行業(yè)協(xié)會亞洲分會(A-ATP)主辦,芥末堆協(xié)辦。A-ATP成立于2012年,是國際考試行業(yè)協(xié)會(ATP)在亞洲地區(qū)的分會,致力于在考試測評領域為從業(yè)者樹立共同的全球立場和政策,為亞洲考試行業(yè)在國際舞臺上贏得更高的地位與更廣泛的影響力做出了顯著貢獻。

今年的大會預計將迎來300至400名來自全球的與會者,聚集了包括行業(yè)資深專家、政策制定者以及教育科技和測試行業(yè)的學者和實踐者在內(nèi)的多元化演講者陣容?;顒訉娜蛞暯浅霭l(fā),與會者來自世界各地,特別是亞洲、美國、英國等國家與地區(qū)。會議將設有超過30個精彩環(huán)節(jié),包括主題演講、辯論、專題研討會、創(chuàng)新展示及小組討論,旨在為參與者提供一個內(nèi)容豐富且深具啟發(fā)性的交流平臺。

今天,我們想要介紹本次大會兩位主旨演講嘉賓。更多有關其他演講嘉賓的詳細信息將在近期陸續(xù)發(fā)布,敬請關注!

首日主論壇主旨演講嘉賓

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Karan Khemka

Leverage Edu董事會成員

演講主題:《測評將成為全球移動性和技術革命的核心》

Karan Khemka是一位世界級的教育專家,在加入EMK之前,他創(chuàng)建并領導了Parthenon全球領先的教育實踐。

他還曾擔任多個全球教育企業(yè)和機構(gòu)的高級顧問,包括The Green School和Phillips Academy Andover。

演講摘要:

隨著世界處于前所未有的變革邊緣,測評的作用比以往任何時候都更加關鍵。本次演講將深入探討測評在引導全球移動性和技術革命中的深遠影響,重點關注四個關鍵趨勢:

  • 人口變化與移民:探討如何通過測評管理多樣化移民群體的技能和能力,確保他們能夠成功融入并為所在社會做出貢獻。

  • 壽命延長與多職業(yè)生涯:探討評估如何促進終身學習和職業(yè)轉(zhuǎn)型,幫助人們在漫長的職業(yè)生涯中實現(xiàn)順利過渡。

  • 氣候變化與能源轉(zhuǎn)型:重點討論實現(xiàn)可持續(xù)未來所需的技能,打造能夠在綠色和有韌性的經(jīng)濟中蓬勃發(fā)展的勞動力。

  • 理解和預見技術變革所需的技能和能力:評估將如何幫助社會利用這些技術變革。

此外,本環(huán)節(jié)還將探討一些熱點問題,包括:

  • 高風險測評的影響

  • 新興的測評需求

  • 未來靈活的商業(yè)模式

第二日主論壇主旨演講嘉賓

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Jimmrey de la Torre

香港大學教授

演講主題:《重構(gòu)測評與學習——通過現(xiàn)代心理測量學和技術進步》

Jimmy de la Torre是香港大學教育學院的人類溝通、學習與發(fā)展教授。他的主要研究興趣集中在教育和心理測試與測量領域,特別強調(diào)項目反應理論、認知診斷建模,以及通過測評來指導教學和學習。他在這些主題上發(fā)表了超過一百篇文章和書籍章節(jié)。近二十年來,Jimmy在四大洲的15個國家舉辦了超過40場關于認知診斷建模的工作坊。2009年,他被白宮授予科學與工程學總統(tǒng)早期職業(yè)獎(the Presidential Early Career Award for Scientists and Engineers)。此外,他還獲得了2009年的杰森·米爾曼有前途測量學者獎(Jason Millman Presidential Early Career Award for Scientists and Engineers)和2017年美國教育測量委員會頒發(fā)的布拉德利·漢森獎(the Bradley Hanson Award),以表彰他對教育測量的貢獻。

演講摘要:

在亞洲測試與教育技術的快速發(fā)展中,學習與評估、心理測量學和技術的交匯點正變得越來越關鍵。認知診斷模型為傳統(tǒng)的高風險測試提供了一個替代性的框架,能夠充分發(fā)揮人工智能驅(qū)動的學習與評估的優(yōu)勢。它為融合在線學習和評估的基礎設施設計提供了一個連貫的學習與評估框架。在這一新模型下,技術促進了內(nèi)容和數(shù)據(jù)的高效利用,從而改進了學習評估和個性化學習路徑。近期的發(fā)展和未來的趨勢可能會推動教育公平性的提升,并擴大社會各階層學生的參與范圍,把潛力和理想轉(zhuǎn)化為現(xiàn)實,開創(chuàng)該地區(qū)學習與評估的新紀元。

更多嘉賓信息,請關注官網(wǎng)“Meet Our Speakers”頁面:

https://a-atp.jmdedu.com/Program/Meet-Our-Speakers

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來源: 芥末堆
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